پایان نامه درباره تصویر سازی و مورفولوژی

1-8-1میکروسکوپهای پروبی- روبشی
این میکروسکوپها دارای یک پروپ شبیه سوزن برای روبش (جاروب کردن) سطح نمونه میباشد که بصورت نقطه به نقطه سطح نمونه را جاروب میکند و با اندازهگیری و پردازش سیگنالها توسط رایانه تصویر سه بعدی از سطح ایجاد میکند.
این میکروسکوپ نسبت به میکروسکوپهای الکترونی دارای مزایایی است که عبارتند از: بزرگنمایی بیشتر، قدرت تفکیک بالاتر، توانایی ایجاد تصویر سه بعدی، امکان جابجایی اتمها، عدم نیاز به خلاء.
اساس کار این نوع میکروسکوپها استفاده از مواد پیزوالکتریک است که با اعمال ولتاژ به بلورهای پیزوالکتریک طول آن تغییر میکند این تغییر طول متناسب با جهت و اندازه میباشد که توسط سوزنی که به یک نگهدارنده به نام کانتی لیور متصل است مشخص میشود (شکل 1-5). سوزن آن نقطه به نقطه سطح را جاروب میکند و پس از پردازش سیگنالها، نتایج روی نمایشگر نشان داده میشوند در این میکروسکوپ برای نمایش سه بعدی سطح از سه میله عمود بر هم در سه جهت استفاده میشود تا تصاویر سه بعدی تشکیل شوند. در میکروسکوپهای روبشی جدید به جای استفاده از سه سوزن عمود بر هم از یک استوانه تو خالی از جنس پیزوالکتریک استفاده میکنند که سطح داخلی با لایه نازکی از یک رسانای فلزی پوشیده میشود و با تغییر ولتاژ سوزن در سه جهت جابجا میشود.


Widget not in any sidebars

شکل 1-5تصویر (a)یک قطعه پیزوالکتریک (b)پروب (سوزن)
1-8-2 میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM)
در این نوع میکروسکوپ از عدسیهای الکتروستاتیکی استفاده میشود که کار بزرگنمایی و تمرکز الکترونی را انجام می دهد. با توجه به شکل 1-6 در این میکروسکوپ، الکترونها از کاتد گسیل میشوند و توسط آند شتاب میگیرند و توسط عدسی الکترواپتیکی روی نمونه متمرکز میشوند سپس امواج الکترونی از نمونه عبور کرده و توسط عدسیهای اپتیکی تصویر بزرگتری را ایجاد میکند و بر روی پرده نشان میدهد. این میکروسکوپ برای کسب اطلاعات ساختاری از نمونههایی که به اندازهی کافی نازک هستند تا الکترون از آن بگذرد استفاده میشود. دو حالت اصلی (TEM) عبارتند از تفکیک پرتو و تصویر سازی. در این دستگاه الکترونهای گسیل شده از تفنگ گرمایونی، تا100 کیلو الکترون ولت و گاهی تا یک مگا الکترون ولت شتاب داده میشود و توسط عدسیهای جمع کننده دستگاه به نمونه تابانده میشوند. مراحلی که الکترون در عبور از درون نمونه تحمّل میکند، بصورت اطلاعات کسب شده نشان داده میشود.
خواص مواد نانوساختاری به شکل و اندازه آنها بستگی دارد و از این رو مطالعه پیرامون شکل، اندازه و آرایش مواد نانوساختاری ضروری است. روشهای مختلفی برای تعیین شکل و اندازه ذرات به کار میرود که از جمله آنها میتوان به (AFM) میکروسکوپ نیروی اتمی و مانند آن اشاره کرد. برخی طیف سنجی نوری عبوری، پراش اشعه، اندازه X از این روشها شکل و اندازه ذرات را به طور مستقیم به دست نمیدهند.
روشهای مورد استفاده در میکروسکوپ الکترونی عبوری برای بررسی ویژگیهای مواد عبارتند از:
تصویربرداری (میدان تاریک و میدان روشن)
پراش الکترون
پراش الکترون با باریکه واگرا(SAD)
تصویربرداری Phase-Contrastدر HRTEM
تصویربرداری Z-Contrast
طیف نگاری پاشندگی انرژی اشعه (EDS) X
طیف نگاری اتلاف انرژی الکترون (EBLS) [7،8].

شکل 1-6 طرحی ازیک میکروسکوپیک الکترونی
1-8-3 میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)
دستگاهی است که برای بررسی خواص و ساختار سطحی مواد در ابعاد نانومتر بکار میرود این دستگاه میتواند از سیگنالهای متعددی استفاده کند و در محیط خلاء و مایع نیز میتواند کار کند. بر خلاف اکثر روشهای بررسی خواص سطوح، در این روش غالباً محدودیت اساسی بر روی نوع سطح و محیط آن وجود ندارد. امکان بررسی سطوح رسانا یا عایق، نرم یا سخت، منسجم یا پودری، بیولوژیک و آلی یا غیر آلی وجود دارد. میتوان ویژگیهایی مانند: اصطکاک، مورفولوژی سطح، توزیع چسبندگی، ناخالصی سطح، جنس نقاط مختلف سطح، خاصیت کشسانی، خاصیت مغناطیسی، بزرگی پیوندهای شیمیایی، توزیع بارهای الکتریکی و قطبش الکتریکی نقاط مختلف سطح را بررسی کرد. بر اساس کاربردها و نیازهای مختلف سوزنکهایی با شکلهای مختلف استفاده میشود.
شکل 1-7 بطور نمادین اجزای اصلی دستگاه AFM را نشان میدهد. هنگامی که جسم مورد نظر بر روی این دستگاه برای اسکن شدن نصب میشود و سوزن روی آن قرار میگیرد بر اثر حرکت جسم و نیروهای یونی دفع کننده که بین نوک سوزن و مسیر اسکن وجود دارد سوزن و پایه بالا و پایین میروند. مسیر لیزر بازتاب شده با بالا و پایین رفتن پایه تغییر کرده و تصویر توپوگرافی از سطح نمونه تشکیل میدهد. دقت این تصویر برداری در حد اتم است.